159-5003-5579 
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電子測(cè)量?jī)x表
日置 HIOKI LCR測(cè)試儀 IM3523
2022-07-04
電子測(cè)量?jī)x表
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日置 HIOKI LCR測(cè)試儀 IM3523
應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的理想選擇
基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
在比如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測(cè)試。
內(nèi)置比較器和BIN功能
2ms的快速測(cè)試時(shí)間
日置 HIOKI LCR測(cè)試儀 IM3523
應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的理想選擇
基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
在比如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測(cè)試。
內(nèi)置比較器和BIN功能
2ms的快速測(cè)試時(shí)間
